2002年度後半の活動 (from October 2002 to March 2003)
学会出席
2002年10月28－29日 第38回X線分析討論会（福岡大学）
口頭発表：辻 幸一、Filip Delalieux、長村 俊彦「微細X線ビームと斜出射X線測定による3次元蛍光X線分析」
ポスター発表：辻 幸一、Filip Delalieux「シリコン反射板を用いる全反射蛍光X線分析」
ポスター発表：F. Delalieux, K. Tsuji “3-D XRF analysis of Japanese art crafts”
座長（招待講演セッション）
2002年11月11－12日 「界面微小領域の評価と制御」国際ワークショップ（東北大学）
ポスター発表：K. Tsuji and F. Delalieux, ”FEASIBILITY STUDY OF THREE-DIMENSIONAL XRF SPECTROMETRY USING A PINHOLE APERTURE IN QUASI-CONTACT MODE”
2002年11月28日 第22回表面科学講演大会（早稲田大学）
口頭発表：辻 幸一、Filip Delalieux「微細ビームを用いた斜出射X線測定による表面近傍3次元元素分析」
2003年3月28－29日 第145回日本鉄鋼協会春季講演大会
口頭発表：辻 幸一、Filip Delalieux「金属－セラミックス界面を有する溶解凝固金属試料の蛍光X線元素マッピング」
