研究業績リスト (List of publications)list-of-publications

A. 著書 (Books)

  1. 辻 幸一、広川 吉之助,「全反射現象を利用した蛍光Ｘ線表面分析法」(分担執筆), 「材料工学の先端実験技術」, pp.111-116 (日本金属学会, 1998).
  2. “X-Ray Spectrometry: Recent Technological Advances”, edited by K. Tsuji, J. Injuk, R. E. Van Grieken, John Wiley & Sons, Ltd, の編集　(2004年).
  3. K. Tsuji, Grazing-Exit X-Ray Spectrometry（分担執筆）, “X-Ray Spectrometry: Recent Technological Advances”, edited by K. Tsuji, J. Injuk, R. E. Van Grieken, John Wiley & Sons, Ltd, p. 293-305, (2004).
  4. 辻 幸一、「全反射蛍光X線分析」(分担執筆)、「新訂版・表面科学の基礎と応用」、日本表面科学会編、エヌ・ティー・エス、p. 709-715, (2004）.
  5. 辻 幸一、「蛍光X線分析」（分担執筆）、「放射光科学入門」（東北大学出版会, p.274-279、2004）.
  6. 辻　幸一、「分析電子顕微鏡」（分担執筆）、「機器分析の事典」（朝倉書店、p. 239-241, 2005年）.
  7. 辻　幸一、「斜出射蛍光X線分析」（分担執筆）、「蛍光X線分析の実際」（朝倉書店、p.206-207, 2005年）.
  8. 辻　幸一、「蛍光X線法」（分担執筆）、「表面物性工学ハンドブック　第2版」（丸善、2007年）184-188.
  9. K. Tsuji, “X-ray Technology”, in Kirk-Othmer Encyclopedia of Chemical Technology, 5th ed., ed. A. Seidel, John Wiley & Sons, Inc., Vol. 26, pp. 411-444 (2007).

B. 原著論文 (Original papers)

B-1: 全反射現象を利用した蛍光Ｘ線分析 (TXRF)

  1. K. Tsuji and K. Hirokawa, Take-off angle-dependent x-ray fluorescence of thin films at glancing incidence, Spectrochim. Acta. B, 48, 1471-1480 (1993).
  2. K. Tsuji and K. Hirokawa, Takeoff angle-dependent x-ray fluorescence of layered materials using a glancing incident x-ray beam, J. Appl. Phys., 75, 7189-7194 (1994).
  3. K. Tsuji, S. Sato, and K. Hirokawa, Characterization of Au thin film by Glancing-Incidence and -Takeoff X-Ray Fluorescence Spectroscopy, Jpn. J. Appl. Phys., 33, L1277-L1279 (1994).
  4. K. Tsuji, A. Sasaki, and K. Hirokawa, Effect of surface roughness on takeoff-angle-dependent x-ray fluorescence of ultrathin films at glancing incidence, Jpn. J. Appl. Phys., 33, 6316-6319 (1994).
  5. K. Tsuji, S. Sato, and K. Hirokawa, Surface-sensitive x-ray fluorescence analysis at glancing incident and takeoff angles, J. Appl. Phys., 76, 7860-7863 (1994).
  6. 辻 幸一、佐藤 成男、広川 吉之助、斜入射・斜出射-蛍光Ｘ線分析法による表面・薄膜分析、表面科学 , 15, 668-674 (1994).
  7. 辻 幸一、水戸瀬 賢悟、広川 吉之助、斜入射条件下における取り出し角依存-蛍光Ｘ線分析法による真空蒸着薄膜および溶液滴下-乾燥薄膜の分析、Ｘ線分析の進歩 , 26, 59-74 (1995).
  8. K. Tsuji, T. Yamada, T. Utaka, and K. Hirokawa, The effects of surface roughness on the angle-dependent total-reflection x-ray fluorescence of ultrathin films, J. Appl. Phys., 78, 969-973 (1995).
  9. K. Tsuji, S. Sato, and K. Hirokawa, Depth profiling using the glancing-incidence and -takeoff x-ray fluorescence method, Rev. Sci. Instrum., 66, 4847-4852 (1995).
  10. S. Sato, K. Tsuji, and K. Hirokawa, Evaluation of Ni/Mn multilayer samples with glancing-incidence and -takeoff x-ray fluorescence analysis, Appl. Phys. A, 62, 87-93 (1996).
  11. 辻 幸一、広川 吉之助、斜入射・斜出射－蛍光Ｘ線分析法による表面反応の評価
    表面科学、17, 346-351 (1996).
  12. K. Tsuji, S. Sato, and K. Hirokawa, Glancing-incidence and glancing-takeoff x-ray fluorescence analysis of a Mn ultrathin film on an Au layer, Thin Solid Films, 274, 18-22 (1996).
  13. K. Tsuji and K. Wagatsuma, Solid surface density determination using the glancing-takeoff x-ray fluorescence method, Jpn. J. Appl. Phys., 35, L1535-L1537 (1996).
  14. K. Tsuji and K. Hirokawa, Nondestructive depth profiling of oxidized Fe-Cr alloy by the glancing-incidence and -takeoff x-ray fluorescence method, Appl. Surf. Sci., 103, 451-458 (1996).
  15. K. Tsuji, K. Wagatsuma and K. Hirokawa, Takeoff angle-dependent x-ray fluorescence analysis of thin films on acrylic substrate, Journal of Trace and Microprobe Techniques, 15, 1-11 (1997).
  16. K. Tsuji, K. Wagatsuma and K. Oku, Experimental evaluation of the Mo Ka x-ray penetration depth for a GaAs wafer in a total reflection x-ray fluorescence analysis, Anal. Sci., 13 351-354 (1997).
  17. K. Tsuji, K. Wagatsuma, K. Hirokawa, T. Yamada, and T. Utaka, Development of the glancing-incidence and -takeoff x-ray fluorescence analysis, Spectrochim. Acta B, 52, 841-846 (1997).
  18. 辻 幸一、我妻 和明、全反射Ｘ線侵入深さの評価、表面科学、18 424-428 (1997).
  19. K. Tsuji, T. Sato and K. Wagatsuma, X-ray fluorescence analysis by multiple-glancing x-ray beam excitation, Jpn. J. Appl. Phys., 37 5821-5822 (1998).
  20. K. Tsuji, T. Sato, K. Wagatsuma, M. Claes, and R. Van Grieken, Preliminary experiment of total reflection x-ray fluorescence using two glancing x-ray beams excitation, Rev. Sci. Instrum., 70 1621-1623 (1999).
  21. K. Tsuji, H. Takenaka, K. Wagatsuma, P. K. de Bokx and R. E. Van Grieken, Enhancement of X-ray fluorescence intensity from ultra-thin Ni layer sandwiched with carbon layers at grazing-emission angles, Spectrochim. Acta B, 54, 1881-1888 (1999).
  22. K. Tsuji, K. Wagatsuma and T. Oku, Glancing-Incidence and Glancing-Takeoff X-Ray Fluorescence Analysis of Ni-GaAs Interface-Reactions, X-Ray Spectrometry, 29, 155-160 (2000).
  23. J. Injuk, J. Osán, R. Van Grieken, K. Tsuji, Airborne particles in the Miyagi Museum of Art in Sendai, Japan, Studied by Electron Probe X-Ray Microanalysis and Energy Dispersive X-Ray Fluorescence Analysis, Anal. Sci. 18, 561-566 (2002).
  24. K. Tsuji, K. Wagatsuma, Enhancement of TXRF Intensity by Using a Reflector, X-Ray Spectrom. 31, 358-362 (2002).
  25. K. Tsuji, F. Delalieux, Characterization of X-rays emerging from between reflector and sample carrier in reflector-assisted TXRF analysis, X-Ray Spectrom.33, 281-284 (2004).
  26. 辻　幸一、反射板を利用した全反射蛍光Ｘ線分析の基礎検討、Ｘ線分析の進歩、35, 193-200 (2004).
  27. 松岡代志子、細川好則、日野雅之、辻　幸一、全反射蛍光Ｘ線分析のための血液試料サンプリング方法の検討、分析化学、54, 749-754 (2005)．
  28. 中田　宗寛、辻　幸一、全反射蛍光X線分析のためのグロー放電スパッタリングによる試料作製、J. Surf. Anal., 12, 303-307 (2005).
  29. K. Nakano, K. Tanaka, X. Ding, K. Tsuji, Development of a New TXRF Instrument using Polycapillary X-ray Lens, Spectrochim. Acta B, 61, 1105-1109 (2006).
  30. A. Okhrimovskyy, K. Saito, K. Tsuji, Theoretical characterization of reflector-assisted TXRF analysis, e-Journal of. Surface Science and Nanotechnology, 4, 579-583 (2006).
  31. K. Tsuji, Y. Hanaoka, A. Hibara, M. Tokeshi, T. Kitamori, Total reflection X-ray fluorescence analysis with chemical microchip, Spectrochim. Acta B, 61, 389-392 (2006).
  32. K. Tsuji, M. Kawamata, Y. Nishida, K. Nakano, K. Sasaki, Micro Total Reflection X-ray Fluorescence (Micro-TXRF) Analysis, X-ray Spectrometry, 35, 375-378 (2006).

B-2: Ｘ線照射－STMに関する研究 (X-ray STM)

  1. K. Tsuji and K. Hirokawa, X-ray excited current detected with scanning tunneling microscope equipment, Jpn. J. Appl. Phys., 34, L1506-L1508 (1995).
  2. K. Tsuji and K. Hirokawa, Glancing-incidence and takeoff x-ray fluorescence and scanning tunneling microscopy of thin films under x-ray irradiation, Surf. Interface Anal., 24, 286-289 (1996).
  3. 辻 幸一、広川 吉之助、ＳＴＭ装置を用いたＸ線励起電流の測定、表面科学、17, 161-166 (1996).
  4. K. Tsuji and K. Hirokawa, Characteristics of an x-ray-excited current detected with an STM tip, Rev. Sci. Instrum., 67, 3573-3577 (1996).
  5. 辻 幸一、我妻 和明、Ｘ線照射下でのＳＴＭ観察と探針電流の測定、Ｘ線分析の進歩、 28, 289-300 (1997).
  6. K. Tsuji and K. Wagatsuma, Optimum gaseous pressure for the measurement of the x-ray excited scanning tunneling microscope tip current, Jpn. J. Appl. Phys., 36, 1264-1267 (1997).
  7. K. Tsuji, K. Wagatsuma and K. Hirokawa, Characteristics of total reflection x-ray excited current detected with the tip of scanning tunneling microscope, Spectrochim. Acta B, 52, 855-860 (1997).
  8. K. Tsuji, T. Nagamura, and K. Wagatsuma, Scanning tunneling microscope tip current excited by modulated x-rays, Jpn. J. Appl. Phys., 37, 2028-2032 (1998).
  9. K. Tsuji, Y. Hasegawa, K. Wagatsuma and T. Sakurai, Detection of x-ray induced current using a scanning tunneling microscope and its spatial mapping for elemental analysis, Jpn. J. Appl. Phys., 37, L1271-L1273 (1998).
  10. K. Tsuji, K. Wagatsuma, K. Sugiyama, K. Hiraga, Y. Waseda, EXAFS- and XANES-like spectra obtained by x-ray excited scanning tunneling microscope tip current measurement, Surf. Interface Anal., 27, 132-135 (1999).
  11. Y. Hasegawa, K. Tsuji, K. Nakayama, K. Wagatsuma, T. Sakurai, X-ray source combined ultrahigh-vacuum scanning tunneling microscopy for elemental analysis, J. Vac. Sci. Tech. B.,18, 2676-2680 (2000).

B-3: 斜出射EPMAと斜出射PIXEに関する研究 (Grazing-exit XRS)

  1. K. Tsuji, K.Wagatsuma, R. Nullens, and R. Van Grieken, Grazing-exit electron probe microanalysis for surface and particle analysis, Anal. Chem., 71, 2497-2501 (1999).
  2. K. Tsuji, Z. Spolnik, K. Wagatsuma, J. Zhang, and R. Van Grieken, Enhancement of electron-induced X-ray intensity for single particles under grazing-exit conditions, Spectrochim. Acta B. 54, 1243-1251 (1999).
  3. K. Tsuji, Z. Spolnik, K. Wagatsuma, R. E. Van Grieken, R. D. Vis, Grazing-exit particle-induced X-ray emission analysis with extremely low background, Anal. Chem. 71, 5033-5036 (1999).
  4. K. Tsuji, K. Wagatsuma, R. Nullens, and R. Van Grieken, Elemental X-ray images obtained by grazing-exit electron probe microanalysis (GE-EPMA), J. Anal. At. Spectrom., 14, 1711-1713 (1999).
  5. K. Tsuji, M. Huisman, Z. Spolnik, K. Wagatsuma, Y. Mori, R. E. Van Grieken, R. D. Vis, Comparison of grazing-exit particle-induced X-ray emission with other related methods, Spectrochim. Acta B, 55, 1009-1016 (2000).
  6. K. Tsuji, Y. Murakami, K. Wagatsuma, G. Love, Surface Studies by Grazing-Exit Electron Probe Microanalysis (GE-EPMA), X-Ray Spectrometry, 30, 123-126 (2001).
  7. K. Tsuji, Z. Spolnik, K. Wagatsuma, S. Nagata, I. Satoh, Grazing-Exit X-Ray Spectrometry for Surface and Thin-Film Analyses, Anal. Sci. 17, 145-148 (2001).
  8. K. Tsuji, Z. Spolnik, and T. Ashino, New experimental equipment for grazing-exit electron probe microanalysis (GE-EPMA), Rev. Sci. Instrum., 72, 3933-3936 (2001).
  9. K. Tsuji, Z. Spolnik, K. Wagatsuma, Continuous x-ray background in grazing-exit electron probe x-ray microanalysis, Spectrochim. Acta B, 56, 2497-2504 (2001).
  10. Z. Spolnik, K. Tsuji, K. Saito, K. Asami, K. Wagatsuma, Quantitative analysis of metallic ultra-thin films by grazing-exit electron probe x-ray microanalysis, X-Ray Spectrometry, 31, 178-183 (2002).
  11. Z. Spolnik, J. Zhang, K. Wagastuma, K. Tsuji, Grazing-exit electron probe x-ray microanalysis of ultra-thin films and single particles, Anal. Chim. Acta. 455, 245-252 (2002).
  12. K. Tsuji, K. Saito, K. Asami, K. Wagatsuma, F. Delalieux, Z. Spolnik, Localized Thin-Film Analysis by Grazing-Exit EPMA (GE-EPMA), Spectrochim. Acta. B 57, 897-906 (2002).
  13. K. Tsuji, K. Tetsuoka, F. Delalieux, S. Sato, Calculation of electron-induced x-ray intensities under grazing-exit conditions, e-Journal of. Surface Science and Nanotechnology 1, 111-115 (2003).
  14. Z. Spolnik, K. Tsuji, R. Van Grieken, Grazing-exit electron probe x-ray micro analysis of light elements, X-Ray Spectrom., 33, 16-20 (2004).
  15. K. Tsuji, Grazing-exit electron probe x-ray microanalysis (GE-EPMA): Fundamental and applications (Review article), Spectrochim. Acta, B, 60, 1381-1391 (2005).
  16. T. Tetsuoka, T. Nagamura, K. Tsuji, Improvement of reproducibility in grazing-exit EPMA (GE-EPMA), X-Ray Spectrom., 35, 89-92 (2006).
  17. A. Okhrimovskyy, K. Tsuji, Numerical approach for depth profiling with GE-XRF, X-Ray Spectrom., 35, 305-311 (2006)..

B-4: グロー放電プラズマの機器分析における応用 (Glow discharges)

  1. K. Tsuji and K. Hirokawa, Depth profiling studies of oxidized alloy surfaces by glow discharge emission spectroscopy, Surf. Interface. Anal., 15, 223-228 (1990).
  2. K. Tsuji and K. Hirokawa, Conversion of sputtering time into depth in depth profiles of oxidized Cu-Ni alloys obtained by glow discharge spectroscopy, Surf. Interface. Anal., 17, 819-822 (1991).
  3. K. Tsuji and K. Hirokawa, Studies on chemical sputtering of Si and C in Ar-H2 glow discharge plasma by optical emission spectroscopy, Thin Solid Films, 205, 6-12 (1991).
  4. 辻 幸一、広川 吉之助,グロー放電成膜現象の発光スペクトルによる評価、
    日本化学会誌 , 1991, 1379-1385 (1991).
  5. K. Tsuji and K. Hirokawa, Studies on carbon deposition in Ar-CH4 plasmas with optical emission spectroscopy and x-ray photoelectron spectroscopy, Appl. Surf. Sci., 59, 31-37 (1992).
  6. K. Tsuji and K. Hirokawa, Estimation of chemical sputtering rates of carbon in He-H2 glow discharge plasmas by optical emission spectroscopy, Jpn. J. Appl. Phys., 32, 916-920 (1993).
  7. K. Tsuji, H. Matsuta and K. Wagatsuma, Fast electrons from Grimm glow discharge helium plasmas,
    Jpn. J. Appl. Phys., 36, L446-L448 (1997).
  8. K. Tsuji, K. Wagatsuma and H. Matsuta, Characteristics of fast electrons from Grimm glow discharge He plasmas as an electron source, Spectrochim. Acta B, 52 1587-1595 (1997).
  9. 辻 幸一, 我妻 和明, 松田 秀幸,グリム型グロー放電プラズマからの高速電子放出現象とX線元素分析への応用, 分析化学, 46, 863-867 (1997).
  10. 辻 幸一, 松田 秀幸, 我妻 和明,高電圧グロー放電からのX線放射, X線分析の進歩, 29, 223-232 (1998).
  11. K. Tsuji, T. Sato and K. Wagatsuma, Grimm glow discharge X-ray tube, Spectrochim. Acta B, 53, 417-426(1998).
  12. K. Tsuji, K. Wagatsuma, S. Yamaguchi, S. Nagata, and K. Hirokawa, X-ray measurement from the cathode surface of glow discharge tube used as a compact x-ray fluorescence instrument, Spectrochim. Acta B, 53, 1669-1677 (1998).
  13. K. Tsuji and K. Wagatsuma, Compact glow discharge x-ray tube, Rev. Sci. Instrum., 69, 4006-4007 (1998).

B-5: マイクロX線分析（3次元X線分析法）(micro XRF)

  1. K. Tsuji and F. Delalieux, Micro x-ray fluorescence using a pinhole aperture in quasi-contact mode, J. Anal. At. Spectrom. 17, 1405-1407 (2002).
  2. K. Tsuji and F. Delalieux, Feasibility study of 3 dimensional XRF spectrometry using m-x-ray beam under grazing-exit conditions, Spectrochim. Acta B , 58, 2233-2238 (2003).
  3. T. Emoto, Y. Sato, Y. Konishi, X. Ding, K. Tsuji, Development and applications of a grazing exit micro x-ray fluorescence (GE-m-XRF) instrument using a polycapillary x-ray lens, Spectrochim. Acta B, 59, 1291-1294 (2004).
  4. 江本哲也、小西洋太郎、X. Ding, 辻　幸一、キノア種子のＸ線元素マッピングにおける自己吸収の影響の軽減、Ｘ線分析の進歩、36, 267-274 (2005).
  5. K. Tsuji, T. Emoto, Y. Matsuoka, Y. Miyatake, T. Nagamura, and X. Ding, Micro-XRF Instrument Developed in Combination with Atomic Force Microscope, Powder Diffraction 20, 137-140 (2005).
  6. K. Tsuji, T. Emoto, Y. Nishida, E. Tamaki, Y. Kikutani, A. Hibara, T. Kitamori, Grazing-exit micro x-ray fluorescence analyses for chemical microchip, Anal. Sci. 21, 799-803 (2005).
  7. K. Tsuji, A. Matsuda, K. Nakano, A. Okhrimovskyy, X-ray fluorescence analysis of soft materials using needle-type collimators enabling greater tolerance in analysis depth, Spectrochim. Acta B, 61, 460-464 (2006).
  8. K. Tsuji, K. Nakano, X. Ding, Development of Confocal Micro-XRF Instrument using Two X-ray Beams, Spectrochim. Acta B, accepted.
  9. 中野 和彦, 辻 幸一, 共焦点型蛍光Ｘ線分析装置の開発と米試料の三次元元素分析, 分析化学、55, 427-432 (2006).
  10. 田中　啓太、堤本　薫、荒井　正浩、辻　幸一、ポリキャピラリーX線レンズの特性評価、X線分析の進歩、37, 289-300 (2006) .
  11. 松田晃典、辻　幸一、ニードル型コリメーターを用いた試料内部微小空間の蛍光X線分析、分析化学、55, 681-687 (2006).
  12. K. Tsuji, K. Nakano, Development of Confocal 3D micro XRF Spectrometer with Cr-Mo Dual Excitation, X-Ray Spectrom., accepted.
  13. 堤本　薫, 辻　幸一, 固液界面および化学めっき過程の蛍光X線分析, 分析化学、印刷中.
  14. K. Tsuji, T. Yonehara, Development of compact X-ray Fluorescence probe, in preparation.
  15. K. TSUJI, T. Yonehara, K. NAKANO, Application of confocal 3D micro XRF for solid/liquid interface analysis, in preparation.
  16. 辻　幸一、野寺　雄太、中野　和彦、共焦点型3次元蛍光X線分析装置の開発と微小部深さ方向分析への応用、表面科学、印刷中.
  17. K. TSUJI, T. YONEHARA, K. NAKANO, Elemental mapping of solid-liquid interface by confocal micro-XRF method, Mikrochim. Acta, submitted.

B-6 その他分析法（蛍光X線定量分析、電子線分析など）

  1. Yukinori HIROSE, Tomoryo SHONO, Hiroshi MIYAZAKI, Yoji MASHIKO and Kouichi TSUJI, Microstructure Characterization and Electromigration Reliability of Damascene-fabricated Cu lines using Electron Backscatter Diffraction Technique, e-Journal of. Surface Science and Nanotechnology, accepted.
  2. 廣瀬幸範、本田和仁、前川和義、宮崎博史、上殿明良、辻幸一、合金シードを用いためっきCu薄膜のキャラクタリゼーション、分析化学、印刷中.
  3. Kazuhiko Nakano, Hiroshi Matsui, and Kouichi Tsuji, A New Preparation of In-house Reference materials of the Food Grain Sample for XRF analysis, Anal. Chim. Acta, submitted.
  4. J. Liang, Z. Li, K. Tsuji, K. Nakano, M. J. R. Nout, R. J. Hamer, Milling characteristics and distribution of phytic acid and zinc in rice kernels, Journal of Cereal Science, submitted.
  5. 堤本　薫, 辻　幸一, 固液界面および化学めっき過程の蛍光X線分析, 分析化学、印刷中(6月号).
  6. K. Tsutsumimoto, K. Tsuji, Time-resolved X-ray fluorescence for monitoring the intake of mineral nutrients in living plants, X-Ray Spectrom., accepted

C. 解説や総説など (other articles)

  1. 辻 幸一、蛍光Ｘ線分析法による薄膜材料の新しい分析・評価法, 日本金属学会会報、32, 180 (1993).
  2. 辻 幸一、広川 吉之助、「全反射現象を利用した蛍光Ｘ線表面分析法」, まてりあ (先端実験技術シリーズ)、35, 1333-1338 (1996).
  3. 辻 幸一、「走査型プローブ顕微鏡による元素識別」、ぶんせき、1997, 665 (1997).
  4. 辻 幸一、我妻 和明、杉山 和正、長谷川 幸雄、「元素の識別　－X線照射による元素分析型STMの試み－」, Boundary, 1999-8, 10-13 (1999).
  5. 辻 幸一, 「1st Workshop on Environmental Analytical Artefacts」, ぶんせき, 1999, 435 (1999).
  6. 辻 幸一, 「EMAS’99 European Workshop」, 表面科学, 20, 495 (1999).
  7. 辻 幸一, 「ベルギーのマイクロアナリシス研究集団」, まてりあ, 38, 652 (1999).
  8. 辻 幸一, 「斜出射X線測定による微小領域の表面分析と微粒子分析」, まてりあ(最近の研究), 39, 586-593 (2000).
  9. 辻 幸一, 「斜出射EPMA装置の試作と分析性能の評価」,　島津科学技術振興財団平成11年度事業報告書(Annual Report of Shimadzu Science Foundation), 19 (2000).
  10. 辻　幸一,　「斜出射X線測定型の電子線プローブマイクロアナリシス」, Ｘ線分析の進歩（アグネ技術センター）32集, 25-44 (2001).　
  11. 辻　幸一, 「斜出射EPMA装置の試作と分析性能の評価」, 島津科学技術振興財団平成11年度最終報告書(Annual Report of Shimadzu Science Foundation), 28-32 (2002).
  12. 辻　幸一、「斜出射条件下でのＥＰＭＡ」、日本学術振興会製鋼第19委員会　製鋼計測化学研究会　予稿, 19委－11935, 1-19 (2001).
  13. 辻　幸一、「斜出射X線測定とＳＴＭによる局所表面分析」、分析化学, 51, 605-612 (2002).
  14. 辻　幸一、「X線分析関連の３つの国際会議報告」、ぶんせき、2002, 533 (2002).
  15. 辻　幸一、「斜出射X線分析のEPMAへの応用」、日本電子(株)EPMA・表面分析ユーザーズミーティング解説書、(2002) ．
  16. 辻　幸一、「斜出射X線分析－EPMAとXRFへの応用」、ぶんせき、338, 83-88 (2003)．
  17. K. Tsuji, S. Hayakawa, T. Hari, K. Yamane, N. Kometani, Y. Yonezawa、Spring８ User Experiment Report、No. 11 (2003A), 179 (2003).
  18. 辻　幸一、早川　慎二郎、張　利広、山根　一真、米谷　紀嗣、米澤　義朗、「X線マイクロビームを用いるナノメーターレベルでの深さ方向分析」、文部科学省　ナノテクノロジー総合支援プロジェクト　Spring-８　研究成果報告書、vol. 2 2003年A, 151-152 (2003).
  19. 辻　幸一、「斜出射Ｘ線測定型－微小部蛍光Ｘ線分析装置の開発」、大阪市立大学ナノサイエンス・ナノテクノロジーフォーラム報告書 (vol.2) 47-48 (2003).
  20. 辻　幸一、早川　慎二郎、「微小部X線分析　－TXRF2003サテライト会議での話題を中心に－」、理学電機ジャーナル、35, 13-17 (2004).
  21. K. Tsuji, T. Sakai, S. Yamamoto, “Fundamental Research of Grazing-Exit PIXE”, Japan Atomic Energy Research Institute, TIARA annual report, JAERI-Review 2004-025, 272-273 (2004).
  22. 辻　幸一、「斜出射配置における電子線プローブマイクロアナリシス」、日本電子NEWS、36, 16-19(2004).
  23. K. Tsuji, “Grazing-Exit Electron Probe Microanalysis (GE-EPMA)”, JEOL NEWS, 39, 52-55 (2004).
  24. 辻　幸一、「蛍光X線分析における近年の要素技術の進歩と特殊な測定方法」、X線分析の進歩、36, 63-74 (2005).
  25. 辻　幸一、合志陽一先生のCSI2005賞受賞記事、分光研究、54 (6), (2005) 341.
  26. 辻　幸一、松田　晃典、中野　和彦、「3次元蛍光X線元素分析」、平成１７年度大阪市立大学重点研究「ヒューマンアダプティブ・マテリアルの開拓」シンポジューム講演要旨集, (2006) 73-76.
  27. 松井　宏、中野　和彦、辻　幸一、「穀類の蛍光Ｘ線分析のための標準試料作製」、平成１７年度大阪市立大学重点研究「ヒューマンアダプティブ・マテリアルの開拓」シンポジューム講演要旨集, (2006) 136-137.
  28. 花岡　洋介、辻　幸一、「マイクロ化学システムの全反射蛍光X線分析」、平成１７年度大阪市立大学重点研究「ヒューマンアダプティブ・マテリアルの開拓」シンポジューム講演要旨集, (2006) 138-140.
  29. 辻　幸一、松田　晃典、中野　和彦、「ポリキャピラリーX線レンズを用いた2次元・3次元蛍光X線分析」、日本学術振興会製鋼19委員会、製鋼計測化学研究会第36回会議　講演要旨集、(2006).
  30. 辻　幸一、「高感度・微小部蛍光X線分析の開発と応用」、大阪市立大学大学院工学研究科　研究機構：「ファインフローテクノロジーの開拓と材料創成」研究会要旨集 (2006).
  31. 河合潤、桜井健次、辻幸一、林久史、松尾修司、森良弘、渡辺孝、「2005年Ｘ線分析関連文献総合報告」、Ｘ線分析の進歩, 37, (2006) 25-44.
  32. 辻　幸一、「ポリキャピラリーX線レンズの基礎と応用」、ぶんせき「解説記事」、8月号, 378-382 (2006).
  33. 中野和彦、 辻幸一、「コメ一粒における3次元の元素分布を可視化する」、第67回分析化学討論会、展望とトピックス、p.23 (2006).
  34. Andriy OKHRIMOVSKYY, Takao MORIYAMA, and Kouichi TSUJI, Investigation of Experimental Arrangements in X-ray Fluorescence Analysis Using Ultra-Thin Sample Carrier, Memories of the Faculty of Engineering OCU, 47 (2006), 21-24.
  35. 辻　幸一、「蛍光X線測定による非破壊的な深さ方向元素分析」、放射線と産業、112号、14-19（2006）.
  36. 辻　慎一郎、廣瀬　由紀子、辻　幸一、リング状グロー放電X線管の試作、大阪市立大学工作技術センターレポート”Fabrica”、18 (2006), 21-26.
  37. 桜井健次、辻幸一、中野和彦、林久史、松尾修司、森良弘、渡部孝、「2006年Ｘ線分析関連文献総合報告」、Ｘ線分析の進歩, 38, (2007) 67-88.
  38. 辻　幸一、「境界領域から生まれる融合的な分析科学」、ぶんせき（ロータリー、談話室）2007(5), 255.

D. 国際会議のプロシーディング (proceedings of international conferences)

  1. K. Tsuji, S. Sato, and K. Hirokawa, X-ray fluorescence analysis of thin films at glancing-incident and -takeoff angles, Advances in X-Ray Chemical Analysis, JAPAN, 26s, 151-156 (1995).
  2. K. Tsuji, S. Sato, and K. Hirokawa, Nondestructive depth profiling by glancing-incidence and -takeoff x-ray fluorescence, Mater. Trans. JIM, 37, 295-298 (1996).
  3. K. Tsuji and K. Hirokawa, Surface analysis of Fe-Cr alloy by glancing-incidence and -takeoff x-ray fluorescence method, Mater. Trans. JIM, 37, 1033-1036 (1996).
  4. K. Tsuji, Z. Spolnik, K. Wagatsuma, R. Nullens, and R. Van Grieken, Preliminary experiments on grazing-exit electron probe microanalysis (GE-EPMA), Electron Microscopy and Analysis 1999, proceedings of EMAG conference, 161, 119-122 (1999).
  5. K. Tsuji, Z. Spolnik, K. Wagatsuma, R. Nullens, and R. Van Grieken, Detection limit of grazing-exit electron probe microanalysis (GE-EPMA) for particles analysis, Mikrochim. Acta, 132, 357-360 (2000).
  6. K. Tsuji, Z. Spolnik, K. Wagatsuma, K. Saito, K. Asami, Characterization of thin-films at small region by grazing-exit electron probe microanalysis, Mater. Trans. JIM. 43, 414-416, (2002).
  7. F. Delalieux, K. Tsuji, K. Wagatsuma, R. Van Grieken, Material analysis methods applied to the study of ancient monuments, works of art and artefacts, Mater. Trans. 43, 2197-2200 (2002).
  8. K. Tsuji, Micro-Trace X-ray Analysis –Development of Grazing-Exit-Micro X-Ray Fluorescence (GE-m-XRF) in Combination with Atomic Force Microscope (AFM)-, The proceedings of the 12th Osaka City University, International Symposium, 27-29 October, 2004, p137-142 (2004).
  9. K. Tsuji, T. Emoto, Y. Matsuoka, Y. Miyatake, T. Nagamura, and X. Ding, Micro-XRF Instrument Developed in Combination with Atomic Force Microscope, Advances in X-Ray Analysis.,48, 221-228 (2005).
  10. K. Tsuji, K. Nakano, X. Ding, Micro X-ray Fluorescence Analysis at OCU, Physics Testing and Chemical Analysis, Part B Chemical Analysis, 141, 20, 2005.
  11. K. Tsuji, T. Emoto, Y. Nishida, K. Tsutsumimoto, K. Nakano, E. Tamaki, Y. Kikutani, A. Hibara, T. Kitamori, Application of X-ray fluorescence analysis for chemical microchips, Proceedings of m-TAS 2005 conference, Vol. 2, 991-993, 2005.
  12. K. Tsuji, K. Tsutsumimoto, K. Nakano, K. Tanaka, A. Okhrimovskyy, Y. Konishi, and X. Ding
    Time-Resolved m-XRF and Elemental Mapping of Biological Materials, Advances in X-Ray Analysis, 49, 296-301 (2006).
  13. K.Nakano, K.Tsuji, M.Kozaki, K.Kakita, A.Ono, T.nakamura, Development Plastic Certified Reference Material for XRF analysis (JSAC)containing Pb,Cd,Cr;Part1.Sample Preparation and Homogeneity test , Advances in X-ray Analysis, 49, 280-286 (2006).

E. 国際会議での招待講演 (invited lectures at international conferences)

  1. R. Van Grieken, J. Injuk and K. Tsuji, “TRENDS IN GRAZING EMISSION X-RAY ANALYSIS TECHNIQUES”, 8th Total Reflection X-Ray Fluorescence Analysis and Related Methods, 25-29, Sep. 2000, Vienna, Austria.
  2. K. Tsuji, Y. Hasegawa, K. Sugiyama, K. Wagatsuma and T. Sakurai, “STM experiments under X-ray irradiation”, Asia-Pacific Surface & International Analysis Conference, 23-26, October 2000, Beijing, China.
  3. K. Tsuji, “Surface analysis with PIXE in a glancing exit geometry”, 16th CAARI 2000 (Conference on the Application of Accelerators in Research and Industry), 1-4 Nov. 2000, Denton, Texas, USA.
  4. [Plenary Lecture] K. Tsuji, “Grazing-exit X-ray spectrometry for surface and particle analysis”, 7th Latin American Seminary of Analysis by X-ray Techniques, 19-24, Nov. 2000, Sao Pedro, Brazil.
  5. K. Tsuji, Z. Spolnik, “Grazing-Exit X-ray Spectrometry for EPMA and PIXE”, International Congress on Analytical Science (ICAS) 2001, 6-10 Aug. 2001, Waseda University, Japan.
  6. K. Tsuji, “Grazing-Exit X-Ray Measurement and its Application to 3-D X-Ray Spectrometry”, Meeting at Beijing Normal University, 15 May, 2002, Beijing, China.
  7. K. Tsuji, “Microscopic X-Ray Surface Analysis at Grazing-Exit Geometry”, 5th International Topical Meeting on Industrial Radioisotope and Radiation Measurement Applications (IRRMA-V), 9 -14 June 2002, Bologna, Italy.
  8. K. Tsuji, “Grazing-Exit X-Ray Spectrometry Applied to Microscopic Surface Analysis”, 9th Conference on Total Reflection X-Ray Fluorescence Analysis and Related Methods (TXRF2002), Funchal, Madeira, Portugal, 8 – 13 September 2002.
  9. K. Tsuji, T. Emoto, Y. Matsuoka, Y. Miyatake, T. Nagamura, X. Ding, “Combination of Scanning Probe Microscope and X-ray Analysis”, Denver X-ray Conference, Denver, USA (2004).
  10. K. Tsuji, Micro-Trace X-ray Analysis, the 12th Osaka City University, International Symposium, 27-29 October, 2004.
  11. K Tsuji, “Applications of micro x-ray fluorescence using a polycapillary x-ray lens”, 北京師範大学, 2004年11月28日-12月2日.
  12. K. Tsuji, K. Tanaka, K. Nakano, A. Okhrimovskyy, Y. Konish, X. Ding, “Micro-XRF analysis of biological materials”, 54th Denver X-ray Conference, 1-5 August, 2005, Denver, USA.
  13. K. Tsuji, K. Tsutsumimoto, K. Tanaka, K. Nakano, X. Ding, T. Nagamura, Micro-XRF Studies using Polycapillary X-ray Lens and AFM Instrument, 18th International Conference on X-ray Optics and Microanalysis (ICXOM 2005), Frascati (Rome), Italy, 25-30 September, 2005.
  14. K. Tsuji, K. Nakano, “X-ray Fluorescence analysis of Food Materials”, National Research Center of Geoanalysis, Beijing, China, 17-23 October, 2005
  15. K. Tsuji, K. Nakano, X. Ding, “Micro X-ray Fluorescence analysis at OCU”, 6th China XRF International Conference 24-28 October, 2005.
  16. Kouichi TSUJI, “Grazing-Exit and Micro Wavelength-Dispersive X-Ray Spectrometry (GE-WDXRS and m-WDXRS)”, EXRS 2006, 19-23 June, 2006, Paris, France.
  17. A. Von Bohlen, and K. Tsuji, “Improving the detection limits by TXRF and GEXRF”, 55th Denver X-ray Conference, 7-11 August, 2006, Denver, USA.
  18. K. Tsuji, “Fundamental and New Trends of X-Ray Fluorescence Analysis”, 大阪市･上海市研究者交流事業による招待講演会、7 September 2006, Shanghai, China.
  19. K. Tsuji, “TXRF analysis with chemical microchip and 3D XRF analysis of solid/liquid interfaces “, 8 December, 2006, ISAS (Institute for Analytical Sciences), Dortmund, Germany.
  20. K. Tsuji, “Micro-TXRF analysis with chemical microchip”, 18-22 June, 2007, Trento, Italy.

F. 国内での招待(依頼)講演 (invited lectures in Japan)

  1. 辻　幸一、広川　吉之助、「斜入射・斜出射－蛍光Ｘ線分析法による表面近傍の分析」
    東北大学金属材料研究所　ワークショップ“全反射現象を利用した各種分光法による表面・界面分析”、平成7年9月1日
  2. 辻　幸一、「斜入射・斜出射－蛍光Ｘ線分析法による表面・薄膜分析」
    第15回日本表面科学会講演大会、平成7年11月29日
  3. 辻　幸一、「斜入射・斜出射Ｘ線分析法による表面分析」
    第176回X線分析研究懇談会、平成7年9月19日
  4. 辻　幸一、「全反射Ｘ線励起過程の解明と微小表面分析への応用」
    日本分析化学会第46年会、平成9年10月7日　
  5. 辻　幸一、「斜出射条件下での電子プローブマイクロアナリシス」
    日本学術振興会製鋼第19委員会　製鋼計測化学研究会、平成13年10月22日
  6. 辻　幸一、「古くて新しいＸ線分析」
    日本分析化学会東北支部50周年記念講演会、平成13年12月8日
  7. F. Delalieux, 辻　幸一, 我妻　和明, R. Van Grieken, ”Material analysis of historical heritage”
    日本金属学会2002年春期大会、平成14年3月28－30日
  8. 辻　幸一、「斜出射X線分析のEPMAへの応用」
    2002年度日本電子EPMA・表面分析ユーザーズミーティング、平成14年9月27日
  9. 辻　幸一、「局所・表面・微量X線分析を目標とする２・３の研究」
    関西分析研究会、2003年10月27日　（コベルコ科研）
  10. 辻　幸一、「最近のX線元素分析の進展」大阪市立大学EMA懇話会2003年12月11日
  11. 辻　幸一、「斜出射Ｘ線分析法の開発と応用」　表面分析研究会　第23回研究会　
    （京都大学百周年時計台記念館） 2004年3月8日
  12. 辻　幸一、「斜出射X線分析法の開発と応用」、住友金属工業、2004年5月19日
  13. 辻　幸一、「全反射・斜出射X線測定による微量・単一粒子分析」、第9回「大阪市立大学オープンラボラトリー・材料化学とナノテクノロジー」、2004年5月28日
  14. 辻　幸一、「斜入射もしくは斜出射配置による表面・局所蛍光X線分析」、日本学術振興会製鋼第19委員会製鋼計測化学研究会第31回会議、2004年6月2日.
  15. 辻　幸一、「２１世紀のＸ線分析、蛍光Ｘ線分析」、第40回Ｘ線分析討論会、2004年11月5-6日
  16. 辻　幸一、「最近のX線要素技術の発展と蛍光X線分析への応用」、(株)ルネサステクノロジ、2005年10月18日.
  17. 辻　幸一、「EPMA, X線による異物分析」、技術情報協会、2005年11月30日.
  18. 辻　幸一「高感度３次元蛍光X線分析装置の開発へ向けた取り組み」2006年5月14-15日　日本分析化学会若手フォーラム in 秋田.
  19. 辻　幸一「鉄鋼試料の微小部X線分析」2006年7月28日、日本鉄鋼協会　評価・分析・解析部会セミナー、大阪市立大学.
  20. 辻　幸一、「微小部蛍光X線分析研究の動向と鉄鋼材料への適用可能性」　住友金属工業、2006年12月15日
  21. 辻　幸一、「水溶液中のX線固体表面解析」2007年1月26日、表面科学技術研究会（神戸大学、神戸）.
  22. 辻　幸一、「Ｘ線分析機能を有する走査プローブ顕微鏡の開発」2007年1月19日、大阪市立大学ニューテクガイド2007（大阪産業創造館、大阪）.
  23. 辻　幸一、「蛍光Ｘ線分析法の医療分野への適用可能性」2007年3月13日、第12回次世代医療システム産業化フォーラム2006（大阪商工会議所7階国際会議ホール、大阪）

G. 国際会議での発表 (presentations at international conferences)

  1. K. Tsuji, S. Sato, K. Hirokawa, “X-ray fluorescence analysis of thin films at glancing-incidence and –takeoff angles”, The 5th workshop on TXRF, Tukuba, Japan, 17-19, Oct. 1994, (poster)
  2. K. Tsuji, K. Hirokawa, “Surface analysis of Fe-Cr alloy by glancing-incidence and –takeoff x-ray fluorescence method”, International Symposia on Advanced Materials and Technology for the 21st Century, Honolulu, USA, 13-15, Dec., 1995, (oral)
  3. K. Tsuji, S. Sato, K. Hirokawa, “Nondestructive depth profiling by glancing-incidence and –takeoff x-ray fluorescence”, International Symposia on Advanced Materials and Technology for the 21st Century, Honolulu, USA, 13-15, Dec., 1995 (oral)
  4. K. Tsuji, K. Hirokawa, “Development of glancing-incidence and –takeoff x-ray analysis (GIT-XA)”, 6th confenerence on TXRF, Eindhoven, Dortmund, 10-14, June, 1996, (oral)
  5. K. Tsuji, K. Hirokawa, “Characteristics of total reflection x-ray excited current detected with STM tip”, 6th conference on TXRF, Eindhoven, Dortmund, 10-14, June, 1996, (poster)
  6. K. Tsuji, K. Wagatsuma, R. Nullens and R. E. Van Grieken, “Grazing-Exit Electron Probe Microanalysis for Surface and Particle Analyses”, EMAS’99 workshop, Konstanz, Germany, 2-7, May, 1999 (poster).
  7. R. Van Grieken*, M. Claes and K. Tsuji, “Grazing emission X-ray fluorescence spectrometry: Present status and future”, 6th International Conference on Applications of Nuclear Techniques, Greece, 20-26, June, 1999.
  8. K. Tsuji, Z. Spolnik, K. Wagatsuma, R. Nullens, and R. Van Grieken, “Preliminary Experiments of Grazing-Exit Electron Probe Microanalysis (GE-EPMA)”, EMAG conference, Sheffield, England, 25-27, August, 1999 (poster).
  9. K. Tsuji, Z. Spolnik, K. Wagatsuma, J. Zhang, R. D. Vis and R. E. Van Grieken, “Grazing-exit particle-induced x-ray emission (GE-PIXE) for surface- and atmospheric particles analysis”, Colloquium Spectroscopicum Internationake CSI XXXI, Ankara, Turkey, 5-10, Sep. 1999 (oral).
  10. K. Tsuji, K. Wagatusma, H. Takenaka and R.E. Van Grieken, “Resonance-enhanced Grazing-exit x-ray flurorescence for thin-film analysis”, Colloquium Spectroscopicum Internationake CSI XXXI, Ankara, Turkey, 5-10, Sep. 1999 (poster).
  11. K. Tsuji, R. Nullens, K. Wagatsuma and R. E. Van Grieken, “X-ray imagings and x-ray spectra of thin films and aerosols measured by grazing-exit EPMA (GE-EPMA)”, Colloquium Spectroscopicum Internationake CSI XXXI, Ankara, Turkey, 5-10, Sep. 1999 (poster)
  12. R. Van Grieken*, M. Claes, K. Gysels and K. Tsuji, “Present applications of X-ray emission micro- and trace analysis for environmental research”, International Symposium on Nuclear and Related Techniques in Agriculture, Industry, and Environment (NURT-99), Havana, Cuba, 26-29, Oct. 1999 (oral).
  13. K. Tsuji, K. Wagatsuma, R.D. Vis, R. E. Van Grieken, “Grazing-exit EPMA and grazing-exit PIXE”, European Conference on Energy-Dispersive X-ray Spectrometry (EDXRS2000), Krakow, Poland, 18-25, June 2000 (oral)
  14. K. Tsuji, Z. Spolnik, K. Saito, K. Asami, K. Wagatsuma, “Grazing-Exit EPMA of Ultra-thin Layers”, EMAS 2001 (European Microbeam Analysis Society, 7th European Workshop on Modern Developments and Applications in Microbeam Analysis, Tampere, Finland, 6-10 May 2001 (poster).
  15. K. Tsuji, “Enhancement of TXRF intensity by using a reflector”, International Congress on Analytical Science (ICAS) 2001, 6-10 Aug. 2001, Waseda University, Japan (poster).
  16. K. Tsuji, Y. Hasegawa, T. Sakurai, X-Ray Excitation Combined with STM, Program of the IMR Workshop “Dr. Rohrer’s JSPS Workshop”, 5-6 March, 2002 (poster).
  17. F. Delalieux and K. Tsuji, “Feasibility Study of Three Dimensional X-Ray Fluorescence Analysis of Japanese Art Crafts”, 7th International Conference on Non-destructive Testing and Microanalysis for the Diagnostics and Conservation of the Cultural and Environmental Heritage (ART2002), 2-6 June 2002, Antwerp, Belgium (poster).
  18. Z. Spolnik, K. Tsuji, R. Van Grieken, “Grazing-Exit Electron Probe X-Ray Micro Aanalysis of Light Elements”, European Conference on Energy Dispersive X-Ray Spectrometry (EDXRS2002), 16-21 June 2002, Berlin, Germany (poster)
  19. K. Tsuji, “Total Reflection X-Ray Fluorescence Analysis using a Si Reflector”, European Conference on Energy Dispersive X-Ray Spectrometry (EDXRS2002), 16-21 June 2002, Berlin, Germany (poster).
  20. F. Delalieux, K. Tsuji, K. Wagatsuma and S. Sato, “Calculation of GE-EPMA Intensity and Thin-Film Analysis”, European Conference on Energy Dispersive X-Ray Spectrometry (EDXRS2002), 16-21 June 2002, Berlin, Germany (poster).
  21. F. Delalieux, K. Tsuji, “Feasibility Study of Three-Demensional XRF Spectrometry Using A Pinhole Aperture in Quasi-Contact Mode”, European Conference on Energy Dispersive X-Ray Spectrometry (EDXRS2002), 16-21 June 2002, Berlin, Germany (poster).
  22. Z. Spolnik, K. Tsuji and R. Van Grieken, “Grazing-exit electron probe x-ray micro analysis of light elements in particles”, 9th Conference on Total Reflection X-Ray Fluorescence Analysis and Related Methods (TXRF2002), Funchal, Madeira, Portugal, 8 – 13 September 2002.
  23. K. Tsuji and F. Delalieux, “Feasibility Study of Three-Demensional XRF Spectrometry Using A Pinhole Aperture in Quasi-Contact Mode”, IMR (Tohoku Univ.) workshop, 11-12 November 2002, Sendai, Japan (poster).
  24. K. Tsuji, “Combination of Scanning Tunneling Microscope and X-ray Analysis”, TXRF2003 Satellite meeting, Osaka, Japan, 13, Sep., 2003 (poster).
  25. T. Emoto, K. Tsuji, Y. Kikutani, M. Tokeshi, T. Kitamori “Development of a Micro- and Surface- XRF Instrument and its Application in Micro-Chemical Systems”, TXRF2003 Satellite meeting, Osaka, Japan, 13, Sep., 2003 (poster).
  26. T. Emoto, Y. Sato, K. Tsuji, Xunliang Ding, “Development of micro X-ray fluorescence analysis instrument using polycapillary X-ray lens and its application”, 10th Conference on Total Reflection X-Ray Fluorescence Analysis and Related Methods (TXRF2003), Awaji, Japan, 14-19, Sep., 2003 (poster).
  27. Y. Matsuoka, M. Nakata, K. Tsuji, “Development of directly sampling method of solid materials for total-reflection x-ray fluorescence”, 10th Conference on Total Reflection X-Ray Fluorescence Analysis and Related Methods (TXRF2003), Awaji, Japan, 14-19, Sep., 2003 (poster).
  28. K. Tetsuoka and K. Tsuji, “Improvement of lateral resolution of EPMA by applying grazing-exit X-ray measurements”, 4th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices (ALC2003), Hawaii, USA, 5-10, Oct., 2003 (poster).
  29. K. Tsuji, K. Tetsuoka, T. Nagamura, “Improvement of reproducibility and lateral resolution of elemental analysis in grazing-exit EPMA (GE-EPMA)”, EXRS 2004, Italy, 5-11 June, 2004 (poster).
  30. K. Tsuji, Y. Sato, T. Emoto, “Variation of mapping area and effect of flatness of sample surface in grazing-exit m-XRF (GE-m-XRF) analysis”, EXRS 2004, Italy, 5-11 June, 2004 (oral).
  31. K. Nakano, K. Tsuji, T. Nakamura, “Development of Plastic Certified Reference Materials for XRF analysis (JSAC 0611-0615) containing Pb, Cd, Cr”, Denver X-ray Conference, 1-5 August, 2005, Denver, USA (poster).
  32. K. Tsuji, Y. Nishida, Y. Hanaoka, K. Tsutsumimoto, K. Nakano, E. Tamaki, Y. Kikutani, A. Hibara and T. Kitamori, “X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS FOR CHEMICAL MICROCHIPS”, Colloquium Spectroscopicum Internationake CSI XXXIV, Antwerp, Belgium, 4-9, Sep. 2005 (oral).
  33. K Tsuji, A. Matsuda, K. Nakano, A. Okhrimovskyy, “DEPTH UNLIMITED X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS FOR SOFT MATERIALS USING NEEDLE-TYPE COLIMATORS”, Colloquium Spectroscopicum Internationake CSI XXXIV, Antwerp, Belgium, 4-9, Sep. 2005 (oral).
  34. K Nakano, H. Matsui, K. Tsutsumimoto, K. Tanaka, T. Nakamura and K. Tsuji, “X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS OF FOOD AND PLASTIC MATERIALS USING CRMS JSAC 0611-0615”, Colloquium Spectroscopicum Internationake CSI XXXIV, Antwerp, Belgium, 4-9, Sep. 2005 (poster).
  35. M. Nakata and K. Tsuji, “STUDY ON CHEMICAL SPUTTERING IN Ar(He)–H2 GAS MIXTURES GLOW DISCHERGE PLASMAS BY OPTICAL EMISSION SPECTROSCOPY”, Colloquium Spectroscopicum Internationake CSI XXXIV, Antwerp, Belgium, 4-9, Sep. 2005 (poster).
  36. A. Okhrimovskyy, K. Tsuji, “Nondestructive depth profiling with GE-XRF through numerical modeling”, 11th Conference on Total Reflection X-Ray Fluorescence Analysis and Related Methods (TXRF2005), Budapest, Hundgary, 18-22, Sep., 2005 (oral).
  37. A. Okhrimovskyy, Y. Matsuoka, K. Saito, K. Tsuji, “Theoretical characterization of reflector-assisted TXRF analysis”, 11th Conference on Total Reflection X-Ray Fluorescence Analysis and Related Methods (TXRF2005), Budapest, Hundgary, 18-22, Sep., 2005 (poster).
  38. A. Okhrimovskyy, K. Tsuji, “Numerical Analysis of X-ray Induced by Electron Beam under Grazing Exit Conditions”, 11th Conference on Total Reflection X-Ray Fluorescence Analysis and Related Methods (TXRF2005), Budapest, Hundgary, 18-22, Sep., 2005 (poster).
  39. K. Nakano, K. Tanaka, X. Ding, K. Tsuji, “Development of a New TXRF Instrument using Polycapillary X-ray Lens”, 11th Conference on Total Reflection X-Ray Fluorescence Analysis and Related Methods (TXRF2005), Budapest, Hundgary, 18-22, Sep., 2005 (poster).
  40. K. Tsuji, K. Tanaka, Y. Matsuoka, A. Okhrimovskyy, X. Ding, “Applications of Focusing X-ray Optics to TXRF Analysis”, 18th International Conference on X-ray Optics and Microanalysis (ICXOM 2005), Frascati (Rome), Italy, 25-30 September, 2005 (poster).
  41. K. Tsuji, K. Tetsuoka, A. Okhrimovskyy, K. Saito, K. Asami, “Lateral Resolution of Electron Probe Microanalysis under Grazing Exit Conditions”, 18th International Conference on X-ray Opticas and Microanalysis (ICXOM 2005), Frascati (Rome), Italy, 25-30 September, 2005 (poster).
  42. K. Tsuji, T. Emoto, Y. Nishida, K. Tsutsumimoto, K. Nakano, E. Tamaki, Y. Kikutani, A. Hibara and T. Kitamori,, “APPLICATIONS OF X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS FOR CHEMICAL MICROCHIPS”, 9th International Conference on Miniaturized Systems for Chemical and Life Sciences (m-TAS), 9-13, October, 2005, Boston, USA.(poster).
  43. Kouichi TSUJI, Keita TANAKA, Yosuke NISHIDA, Kazuhiko NAKANO, Ken-ichi SASAKI, “Micro Total Reflection X-ray Fluorescence (m-TXRF)”, EXRS 2006, 19-23 June, 2006, Paris, France. (Poster)
  44. Kazuhiko Nakano, Xunliang Ding, Kouichi TSUJI, “Development of Confocal 3D micro XRF Spectrometer with Cr-Mo Dual Excitation”, EXRS 2006, 19-23 June, 2006, Paris, France. (Oral)
  45. Kazuhiko NAKANO, Kouichi Tsuji, Toshihiro NAKAMURA, Izumi NAKAI, Akira KAWASE, Makoto IMAI, Mikio HASEGAWA, Yohichi ISHIBASHI, “Preparation and certification of the new reference materials; Plastics (disk form, JSAC 0621 – 0625) for determination of Mercury using X-ray fluorescent analysis ”, EXRS 2006, 19-23 June, 2006, Paris, France. (Poster)
  46. K. Tsuji, A. Matsuda, “Micro-XRF Analysis using Needle-Type Collimators”, Denver X-ray Conference, 7-11 August, 2006, Denver, USA (oral).
  47. K. Tsuji, K. Nakano, “Nondestructive elemental depth profile of Japanese lacquer Ware “Tamamushi-Nuri”by Micro GE-XRF and Confocal 3D-XRF”, Cultural Heritage and Science, 5 December, 2006, Gent University, Belgium.(Poster)

H. 新聞記事 (NEWS papers)

  1. 科学新聞, 1997年, 11月14日「技術進歩著しい表面科学大気圧下で非破壊X線利用した新分析法研究」
  2. 日刊工業新聞, 1998年, 11月30日「STMで元素識別－X線当て光電子検出－未知の試料も特定可能に」

I. 特許 (patents)

  1. 発明者：辻　幸一、出願人：科学技術振興事業団、「斜出射電子線プローブマイクロX線分析による異物の分析法」、特開2001-208708, 出願日：2000年1月31日.
  2. 発明者：辻　幸一、出願人：科学技術振興事業団、「斜出射プロトンビーム誘起特性X線分析による試料表面の観察・分析方法およびそのための装置」、特開2001-235436, 出願日：2000年2月23日.
  3. 発明者：辻　幸一、出願人：科学技術振興事業団、「試料基板と反射板を用いてX線が多重反射して収束する機構にした全反射蛍光X線分析法および該分析装置」、特開2003-202306, 出願日：2002年1月4日.
  4. 発明者：辻　幸一、出願人：科学技術振興事業団、「擬接触型キャピラリーを用いる微小領域X線分析方法及びその装置」、特開2003-337110, 出願日：2002年5月21日.
  5. 発明者：辻　幸一、細川好則、出願人：辻　幸一、株式会社エックスレイプレシジョン、「蛍光X線分析装置」、特願2004-177046, 出願日：2004年6月15日.
  6. 発明者： 辻　幸一、松田　晃典、出願人：科学技術振興機構、「試料内微小部位の分析方法及び装置」、特願2005-216667, 出願日：2005年7月27日.
  7. 発明者：辻　幸一、田中　啓太、中野　和彦、出願人：科学技術振興機構、「全反射蛍光X線分析方法及び装置」、特願2005-254037, 出願日：2005年9月1日.
  8. 発明者：辻　幸一、北森　武彦、渡慶次　学、出願人：科学技術振興機構、マイクロ化学技研、「マイクロチップ並びにそれを用いた分析方法及び装置」、特願2005-254240, 出願日：2005年9月2日.
  9. 発明者： 辻　幸一、松田　晃典、　堤本　薫、出願人：科学技術振興機構、「X線分析装置及び分析方法」、特願2006-193523, 出願日：2006年7月14日.
  10. [10]発明者：辻　幸一、田中　啓太、中野　和彦、北森　武彦、渡慶次　学、出願人：科学技術振興機構「マイクロチップ並びにそれを用いた分析方法及び装置」、PCT出願　PCT/JP2006/317078、提出日：2006年8月30日.

ページの先頭へ