1. K. Tsuji, K. Tetsuoka, F. Delalieux, S. Sato, Calculation of electron-induced x-ray intensities under grazing-exit conditions, e-Journal of Surface Science and Nanotechnology 1 (2003) 111-115.
2. K. Tsuji and F. Delalieux, Feasibility study of 3 dimensional XRF spectrometry using m-x-ray beam under grazing-exit conditions, Spectrochim. Acta B , 58 (2003) 2233-2238.
3. K. Tsuji, S. Hayakawa, T. Hari, K. Yamane, N. Kometani, Y. Yonezawa、Spring８ User Experiment Report、No. 11 (2003A), (2003) 179.
4. 辻 幸一、「斜出射X線分析－EPMAとXRFへの応用」、ぶんせき、2003巻2月号 (2003) 83-88．
5. 辻 幸一、早川 慎二郎、張 利広、山根 一真、米谷 紀嗣、米澤 義朗、「X線マイクロビームを用いるナノメーターレベルでの深さ方向分析」、文部科学省　ナノテクノロジー総合支援プロジェクト　Spring-８　研究成果報告書、vol. 2 2003年A (2003) 151-152.
6. 辻 幸一、「斜出射Ｘ線測定型－微小部蛍光Ｘ線分析装置の開発」、大阪市立大学ナノサイエンス・ナノテクノロジーフォーラム報告書 vol.2 (2003)47-48.

＊TXRF2003サテライト会議の要旨集”TXRF2003 Satellite Meeting on Micro X-Ray Beam Analysis”は残部が少しあります。
ご連絡頂ければお送りします。