2004 year

  1. “X-Ray Spectrometry: Recent Technological Advances”, edited by K. Tsuji, J. Injuk, R. E. Van Grieken, John Wiley & Sons, Ltd, の編集　(2004年3月出版) .
  2. K. Tsuji, Grazing-Exit X-Ray Spectrometry（分担執筆）, “X-Ray Spectrometry: Recent Technological Advances”, edited by K. Tsuji, J. Injuk, R. E. Van Grieken, John Wiley & Sons, Ltd, (2004) p. 293-305.
  3. 辻 幸一、「全反射蛍光X線分析法」(分担執筆)、「新訂版・表面科学の基礎と応用」、日本表面科学会編、(2004) p. 709-715.
  4. 辻 幸一、「蛍光X線分析」（分担執筆）、「放射光科学入門」（東北大学出版会, p.274-279、2004）.
  5. K. Tsuji, F. Delalieux, Characterization of X-rays emerging from between reflector and sample carrier in reflector-assisted TXRF analysis, X-Ray Spectrom., 33 (2004) 281-284.
  6. 辻 幸一、反射板を利用した全反射蛍光Ｘ線分析の基礎検討、Ｘ線分析の進歩、35 (2004) 193-200.
  7. Z. Spolnik, K. Tsuji, R. Van Grieken, Grazing-exit electron electron probe x-ray micro analysis of light elements, X-Ray Spectrom., 33 (2004) 16-20.
  8. T. Emoto, Y. Sato, Y. Konishi, X. Ding, K. Tsuji, Development and applications of a grazing exit micro x-ray fluorescence instrument using a polycapillary x-ray lens, Spectrochim. Acta B, 59 (2004)1291-1294.
  9. 辻 幸一、早川 慎二郎、「微小部X線分析　－TXRF2003サテライト会議での話題を中心に－」、理学電機ジャーナル、35 (2004)13-17.
  10. K. Tsuji, T. Sakai, S. Yamamoto, “Fundamental Research of Grazing-Exit PIXE”, Japan Atomic Energy Research Institute, TIARA annual report, JAERI-Review 2004-025 (2004) 272-273.
  11. 辻 幸一、「斜出射配置における電子線プローブマイクロアナリシス」、日本電子NEWS、36 (2004) 16-19.
  12. K. Tsuji, “Grazing-Exit Electron Probe Microanalysis (GE-EPMA)”, JEOL NEWS, 39 (2004)52-55.
  13. K. Tsuji, Micro-Trace X-ray Analysis Development of Grazing-Exit-Micro X-Ray Fluorescence (GE-m-XRF) in Combination with Atomic Force Microscope (AFM)-, The proceedings of the 12th Osaka City University, International Symposium, 27-29 October, 2004, p137-142.

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